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アイテム
光切断法を利用した接点表面形状の計測システム
https://cist.repo.nii.ac.jp/records/579
https://cist.repo.nii.ac.jp/records/579d39439fe-cbd7-49b9-b304-7f6bd2ebd01f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
光切断法を利用した接点表面形状の計測システム (521.3 kB)
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.png)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2019-07-18 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 光切断法を利用した接点表面形状の計測システム | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | An evaluation system of a contact surface profile with an optical cross-section method | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
長谷川, 誠
× 長谷川, 誠× HASEGAWA, Makoto |
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| 書誌情報 |
千歳科学技術大学フォトニクス研究所紀要 en : Bulletin of Photonics Research Center, Chitose Institute of Science and Technology 巻 2, 号 1, p. 25, 発行日 2012-01-10 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 千歳科学技術大学 | |||||
